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半导体行业专用仪器
CAMTEK自动光学检验EagleT-i
CAMTEK自动光学检验Eagle-AP
CAMTEK自动光学检验Eagle-I
CAMTEK半导体AOI设备
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO200A平台
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO300A平台
Trymax先进等离子灰化和蚀刻
TRYMAX等离子除胶机Neo2000
TRYMAX等离子除胶机NEO3000
TRYMAX等离子除胶机NEO2400
其他
亚科电子-超高分辨率电子束光刻EBL
超高分辨率的电子束光刻
亚科电子-超高分辨率的电子束光刻
电子束光刻
电子束光刻系统(EBL)
PICOSUN®R-200高级ALD镀膜设备
PICOSUN®Morpher原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-1000原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300S原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300BV原子层沉积系统ALD
光学仪器及设备
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -XM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -GM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA
场发射扫描电镜MIRA-LM
场发射扫描电镜MIRA XM
场发射扫描电镜MIRA- GM
场发射扫描电镜MIRA-GM
钨灯丝扫描电镜VEGA-SB
钨灯丝扫描电镜VEGA-SBU - EasyProbe
钨灯丝扫描电镜VEGA LM
测量/计量仪器
三维光学显微镜
ContourX-500 3D计量的全自动台式
ContourX-500 3D光学轮廓仪
ContourX-200 3D光学轮廓仪
ContourX-100 3D粗糙度测量精简而经济
ContourX-100 3D光学轮廓仪
多功能材料力学测试系统UMT
ContourGT-K 3D光学显微镜
探针式表面轮廓仪
Bruker布鲁克Dektak XT桌面型探针式表面轮廓仪
制样/消解设备
美国MARCH AP-300等离子系统—紧凑型、桌面式
美国MARCH AP-1000等离子清洗系统
MARCH AP-600等离子系统紧凑型、桌面式
研究开发向NLD干法刻蚀设备NLD-570
法国IBS IMC210中束流离子注入机
AP-600等离子系统-紧凑型、桌面式等离子处理设备
SPTS深硅刻蚀设备
RAITH电子束曝光设备
RIE反应离子刻蚀SI 591
ICP-RIE感应耦合等离子刻蚀SI 500
X射线仪器
Nordson Dage Quadra™ 3 X-射线检测系统
Nordson Dage X-射线检测系统XD7800NT
Quadra™ 7 X-射线检测系统
Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统
Nordson DAGE Quadra X光检查机
QC3高分辨率X射线衍射仪
Jordan Valley Delta-X多功能的X射线衍射设备
X射线单晶衍射仪
比表面积测定仪
Hysitron TI定量纳米力学研究
布鲁克BRUKER纳米力学测试设备Bruker TI 950
Bruker Hysitron TI 980纳米压痕仪
Hysitron TS 77 Select纳米压痕仪
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex
无损检测/无损探伤仪器
超声波扫描显微镜:C-SAM检测系统
Sonoscan D9600 C-SAM超声波扫描显微镜
Sonoscan超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统
Nordson Dage Quadra 5 X-射线检测系统
Quadra系列X射线检测系统
试验机
Nordson DAGE 4000Plus 焊接强度测试仪
Nordson DAGE 3800+焊接强度测试仪
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
芯片系统
微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机
联系方式 |
产品系列
三维光学显微镜
布鲁克作为全球三维表面测量与观察业界的ling dao者,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代,在原有Wyko®专有技术基础上,不断积累创新,来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性;而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。
布鲁克三维光学显微系统在业界一直以zui佳服务和支持著称,在性能稳定性上一贯口碑良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间,数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为先进质量控制和研发设计的测量仪器,可用于精密加工制造类应用的监控,在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域,布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。
ContourX-500 3D光学轮廓仪
用于3D计量的全自动台式
ContourX-500光学轮廓仪是用于快速,非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头,可以完全编程,以在一定角度范围内测量表面特征,同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有****的Z轴分辨率和精度,并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪(WLI)落地式机型的所有业界公认的优势。利用业界zui先进的用户界面,ContourX-500可以直观地访问广泛的预编程过滤器和分析库。借助其新的USI通用扫描模式,可以轻松地针对zui广泛的复杂应用定制分析器,从精密加工表面和半导体工艺的QA / QC计量学到眼科和MEMS器件的R&D表征。
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ContourX-500 3D光学轮廓仪
轮廓GT-K
先进的自动化
布鲁克专有的头部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了****的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合,布鲁克将检测点与视线相结合,而与倾斜无关。这样可以减少操作员的干预,提供zui大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合,使ContourX-500非常适合“按需测量”的工业需求,而且占地面积小。
轮廓X-500
传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员进行调整
五个运动轴以保持在线的检查点
视线进行测量。头部独特的布鲁克提示/倾斜
设计在检查点上保持了视线-
不论倾斜度如何-都能优化图像采集和
zui快的数据记录时间。
轮廓X-500
WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。
****的价值和分析
ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问,从而超过了同类计量能力。