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半导体行业专用仪器
CAMTEK自动光学检验EagleT-i
CAMTEK自动光学检验Eagle-AP
CAMTEK自动光学检验Eagle-I
CAMTEK半导体AOI设备
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO200A平台
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO300A平台
Trymax先进等离子灰化和蚀刻
TRYMAX等离子除胶机Neo2000
TRYMAX等离子除胶机NEO3000
TRYMAX等离子除胶机NEO2400
其他
亚科电子-超高分辨率电子束光刻EBL
超高分辨率的电子束光刻
亚科电子-超高分辨率的电子束光刻
电子束光刻
电子束光刻系统(EBL)
PICOSUN®R-200高级ALD镀膜设备
PICOSUN®Morpher原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-1000原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300S原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300BV原子层沉积系统ALD
光学仪器及设备
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -XM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -GM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA
场发射扫描电镜MIRA-LM
场发射扫描电镜MIRA XM
场发射扫描电镜MIRA- GM
场发射扫描电镜MIRA-GM
钨灯丝扫描电镜VEGA-SB
钨灯丝扫描电镜VEGA-SBU - EasyProbe
钨灯丝扫描电镜VEGA LM
测量/计量仪器
三维光学显微镜
ContourX-500 3D计量的全自动台式
ContourX-500 3D光学轮廓仪
ContourX-200 3D光学轮廓仪
ContourX-100 3D粗糙度测量精简而经济
ContourX-100 3D光学轮廓仪
多功能材料力学测试系统UMT
ContourGT-K 3D光学显微镜
探针式表面轮廓仪
Bruker布鲁克Dektak XT桌面型探针式表面轮廓仪
制样/消解设备
美国MARCH AP-300等离子系统—紧凑型、桌面式
美国MARCH AP-1000等离子清洗系统
MARCH AP-600等离子系统紧凑型、桌面式
研究开发向NLD干法刻蚀设备NLD-570
法国IBS IMC210中束流离子注入机
AP-600等离子系统-紧凑型、桌面式等离子处理设备
SPTS深硅刻蚀设备
RAITH电子束曝光设备
RIE反应离子刻蚀SI 591
ICP-RIE感应耦合等离子刻蚀SI 500
X射线仪器
Nordson Dage Quadra™ 3 X-射线检测系统
Nordson Dage X-射线检测系统XD7800NT
Quadra™ 7 X-射线检测系统
Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统
Nordson DAGE Quadra X光检查机
QC3高分辨率X射线衍射仪
Jordan Valley Delta-X多功能的X射线衍射设备
X射线单晶衍射仪
比表面积测定仪
Hysitron TI定量纳米力学研究
布鲁克BRUKER纳米力学测试设备Bruker TI 950
Bruker Hysitron TI 980纳米压痕仪
Hysitron TS 77 Select纳米压痕仪
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex
无损检测/无损探伤仪器
超声波扫描显微镜:C-SAM检测系统
Sonoscan D9600 C-SAM超声波扫描显微镜
Sonoscan超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统
Nordson Dage Quadra 5 X-射线检测系统
Quadra系列X射线检测系统
试验机
Nordson DAGE 4000Plus 焊接强度测试仪
Nordson DAGE 3800+焊接强度测试仪
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
芯片系统
微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机
联系方式 |
产品系列
Sonoscan 超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统
特点和好处
在双28“4k显示器上查看更多图像。
使用先进的用户界面Sonolytics 2™forWindows10®做更多事情。
获得率高达六倍的结果更好。
扫描较大的部件,扫描区域增加23%。
使用五个独立电机可以缩短采集时间。
Gen7 C-SAM检测系统是声学微成像的zui新一代。 Gen7基于其前代产品的进步,提供了迄今为止zui先进的硬件。先进的硬件允许新功能和分析,现在可以比以前更快地完成。
PolyGate,SonoSimulator,虚拟重新扫描模式(VRM)和频域成像(FDI)等高级功能增加了价值和信心。凭借其大型,易于访问的照明扫描区域,Gen7能够有效扫描从小部件到350mm尺寸部件的所有内容。
除了充满领xian的创新之外,Gen7的设计充分考虑了用户的需求。其符合人体工程学的特点使其使用起来既舒适又方便。新型Sonolytics 2是一款先进的操作软件,具有全新的,更直观的操作界面菜单,有助于zui大限度地提高结果,同时节省操作时间。
Gen7是真正zui先进的声学显微镜,提供一系列技术,人体工程学和先进的Nordson SONOSCAN开发的功能,这在其他任何地方都找不到。
第七代
产品规格
检验方式
•同时轻松捕捉100张图像
Visual PolyGate™。
•使用可自定义的方式创建信息图像
颜色映射方案。
•灵活的扫描模式:
◇A-Scan显示传感器信号。
◇B-Scan提供横截面图像。
◇C-Scan是二维平面图像。
◇散装扫描显示均匀材料的缺陷。
◇Multi-Scan可以生成不同级别的多个图像。
◇表面扫描显示表面有缺陷。
◇回波损耗(LoBE)揭示了连续性缺陷。
◇Nordson SONOSCAN独有的Q-BAM™(定量B扫描分析模式)是样品的聚焦截面图。
◇THRU-Scan(通过透射图像)通过样本的可选阴影图视图。
◇同时直通扫描和反射(STaR)一种可选功能,可在一次通过中生成直通扫描图像和重选图像。
◇同时ASF和反射(SASFaR)选项允许在一次扫描中使用两种模式。
•精确的波形分析模式:
◇FDI™(频域成像)回声频率响应显示其他方法未见的细节。**7,522,780和6,890,302
◇幅度捕获峰峰值信号
和极性。
◇配置文件跟踪界面的位置。
◇时差评估距离或厚度
两个接口之间。
◇Integration Mode™可轻松发现多层样品中的缺陷。
◇ASF™(声表面平整度)是一种可选功能,可测量表面的曲率或翘曲。**8,794,072
•使用附带的高级触发工具安全地捕获图像:
◇正,负和±交叉触发。
◇在Front Interface Echo(FIE),Main Bang或Gated Trigger设置开始。
◇使用动态触发精确定位图层并使用动态门控锁定位置。
•使用AUTOSCAN™节省重复设置的时间。
单个按钮开始扫描多个区域,并自动对齐,居中和聚焦每个区域。通过我们的DIA功能完成自动化和集成分析。
•VRM™(虚拟重新扫描模式)存储100%的A-Scan回波数据,以在任何模式下重现图像,而无需重新扫描实际样本。
•DIA™(数字图像分析仪)高级算法
量化自动接受/拒绝标准的结果。