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半导体行业专用仪器
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CAMTEK自动光学检验Eagle-I
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Trymax等离子灰化和蚀刻NEO200A平台
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Trymax先进等离子灰化和蚀刻
TRYMAX等离子除胶机Neo2000
TRYMAX等离子除胶机NEO3000
TRYMAX等离子除胶机NEO2400
其他
亚科电子-超高分辨率电子束光刻EBL
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电子束光刻系统(EBL)
PICOSUN®R-200高级ALD镀膜设备
PICOSUN®Morpher原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-1000原子层沉积系统ALD
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光学仪器及设备
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -XM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -GM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA
场发射扫描电镜MIRA-LM
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场发射扫描电镜MIRA-GM
钨灯丝扫描电镜VEGA-SB
钨灯丝扫描电镜VEGA-SBU - EasyProbe
钨灯丝扫描电镜VEGA LM
测量/计量仪器
三维光学显微镜
ContourX-500 3D计量的全自动台式
ContourX-500 3D光学轮廓仪
ContourX-200 3D光学轮廓仪
ContourX-100 3D粗糙度测量精简而经济
ContourX-100 3D光学轮廓仪
多功能材料力学测试系统UMT
ContourGT-K 3D光学显微镜
探针式表面轮廓仪
Bruker布鲁克Dektak XT桌面型探针式表面轮廓仪
制样/消解设备
美国MARCH AP-300等离子系统—紧凑型、桌面式
美国MARCH AP-1000等离子清洗系统
MARCH AP-600等离子系统紧凑型、桌面式
研究开发向NLD干法刻蚀设备NLD-570
法国IBS IMC210中束流离子注入机
AP-600等离子系统-紧凑型、桌面式等离子处理设备
SPTS深硅刻蚀设备
RAITH电子束曝光设备
RIE反应离子刻蚀SI 591
ICP-RIE感应耦合等离子刻蚀SI 500
X射线仪器
Nordson Dage Quadra™ 3 X-射线检测系统
Nordson Dage X-射线检测系统XD7800NT
Quadra™ 7 X-射线检测系统
Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统
Nordson DAGE Quadra X光检查机
QC3高分辨率X射线衍射仪
Jordan Valley Delta-X多功能的X射线衍射设备
X射线单晶衍射仪
比表面积测定仪
Hysitron TI定量纳米力学研究
布鲁克BRUKER纳米力学测试设备Bruker TI 950
Bruker Hysitron TI 980纳米压痕仪
Hysitron TS 77 Select纳米压痕仪
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex
无损检测/无损探伤仪器
超声波扫描显微镜:C-SAM检测系统
Sonoscan D9600 C-SAM超声波扫描显微镜
Sonoscan超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统
Nordson Dage Quadra 5 X-射线检测系统
Quadra系列X射线检测系统
试验机
Nordson DAGE 4000Plus 焊接强度测试仪
Nordson DAGE 3800+焊接强度测试仪
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
芯片系统
微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机
联系方式 |
产品系列
产品描述
Nordson DageQuadra™ 5 X-射线检测系统
灵活的 X-射线具有检测到 0.35um 缺陷的功能。
Quadra™5 是一款 X-射线检测系统,适用于亚微米材料的应用如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。
查看*精准的细节
· 获取关于样品的更多信息。QuadraNT™ X-射线信号源和 AspireFP™ 探测器由内部设计、制造和集成,专门用于制造电子产品的样品。
· 超过 30 个高级图像增强滤波器,可以创建更加清晰、易于读取的图像,更加容易找到缺陷。
简单即标准
· 确保制造合规。用于 BGA 质量分析、凸点直径和圆度、焊丝冲弯、焊接和 QFN 空隙的内置自动化工具,可快速查找缺陷,帮助您满足 IPC-A-610 和 IPC-7095 合规标准。
· 使用专有控制和测量软件,减少操作员培训时间。鼠标轻轻一点,即可使用所有功能。
无需维修
· 减少宕机时间。QuadraNT X-射线管无需进行日常维修或更换灯丝。
· 可重复使用为标准。因为灯丝从未更换,因此可以确保检测图像清晰可见且可以重复检验。
· 无油设计。QuadraNT 采用无油离子泵真空设计,无需换油。
Quadra 5 由多种配件组成,包括用于创建μm 级精度 3D 模型的μCT 镜台,以及用于重建回流焊炉条件,以便实时观察焊接工艺流程的恒温镜台。
电容器中的破裂声 | 自动 BGA 孔隙率计算输出报告 | Head-in-Pillow effortlessly identified using X-Plane® |