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半导体行业专用仪器
CAMTEK自动光学检验EagleT-i
CAMTEK自动光学检验Eagle-AP
CAMTEK自动光学检验Eagle-I
CAMTEK半导体AOI设备
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO200A平台
Trymax等离子灰化和蚀刻NEO300A平台
Trymax先进等离子灰化和蚀刻
TRYMAX等离子除胶机Neo2000
TRYMAX等离子除胶机NEO3000
TRYMAX等离子除胶机NEO2400
其他
亚科电子-超高分辨率电子束光刻EBL
超高分辨率的电子束光刻
亚科电子-超高分辨率的电子束光刻
电子束光刻
电子束光刻系统(EBL)
PICOSUN®R-200高级ALD镀膜设备
PICOSUN®Morpher原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-1000原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300S原子层沉积系统ALD
PICOSUN®P-300BV原子层沉积系统ALD
光学仪器及设备
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -XM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA -GM
聚焦离子束(Xe)扫描电镜FERA
场发射扫描电镜MIRA-LM
场发射扫描电镜MIRA XM
场发射扫描电镜MIRA- GM
场发射扫描电镜MIRA-GM
钨灯丝扫描电镜VEGA-SB
钨灯丝扫描电镜VEGA-SBU - EasyProbe
钨灯丝扫描电镜VEGA LM
测量/计量仪器
三维光学显微镜
ContourX-500 3D计量的全自动台式
ContourX-500 3D光学轮廓仪
ContourX-200 3D光学轮廓仪
ContourX-100 3D粗糙度测量精简而经济
ContourX-100 3D光学轮廓仪
多功能材料力学测试系统UMT
ContourGT-K 3D光学显微镜
探针式表面轮廓仪
Bruker布鲁克Dektak XT桌面型探针式表面轮廓仪
制样/消解设备
美国MARCH AP-300等离子系统—紧凑型、桌面式
美国MARCH AP-1000等离子清洗系统
MARCH AP-600等离子系统紧凑型、桌面式
研究开发向NLD干法刻蚀设备NLD-570
法国IBS IMC210中束流离子注入机
AP-600等离子系统-紧凑型、桌面式等离子处理设备
SPTS深硅刻蚀设备
RAITH电子束曝光设备
RIE反应离子刻蚀SI 591
ICP-RIE感应耦合等离子刻蚀SI 500
X射线仪器
Nordson Dage Quadra™ 3 X-射线检测系统
Nordson Dage X-射线检测系统XD7800NT
Quadra™ 7 X-射线检测系统
Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统
Nordson DAGE Quadra X光检查机
QC3高分辨率X射线衍射仪
Jordan Valley Delta-X多功能的X射线衍射设备
X射线单晶衍射仪
比表面积测定仪
Hysitron TI定量纳米力学研究
布鲁克BRUKER纳米力学测试设备Bruker TI 950
Bruker Hysitron TI 980纳米压痕仪
Hysitron TS 77 Select纳米压痕仪
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex
无损检测/无损探伤仪器
超声波扫描显微镜:C-SAM检测系统
Sonoscan D9600 C-SAM超声波扫描显微镜
Sonoscan超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统
Nordson Dage Quadra 5 X-射线检测系统
Quadra系列X射线检测系统
试验机
Nordson DAGE 4000Plus 焊接强度测试仪
Nordson DAGE 3800+焊接强度测试仪
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
芯片系统
微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机
联系方式 |
产品系列
三维光学显微镜
布鲁克作为全球三维表面测量与观察业界的***,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代,在原有Wyko®专有技术基础上,不断积累创新,来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性;而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。
布鲁克三维光学显微系统在业界一直以**服务和支持著称,在性能稳定性上一贯口碑良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间,数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为先进质量控制和研发设计的测量仪器,可用于精密加工制造类应用的监控,在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域,布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。
ContourX-100 3D光学轮廓仪
粗糙度测量的精简而经济的台式
ContourX-100光学轮廓仪以**的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装,可提供****的2D / 3D高分辨率测量功能,并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量(WLI)创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界***的用户友好界面,可直观访问广泛的预编程过滤器库,并用于精密加工的表面,厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头,更新的载物台和新的测量模式,以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。
ContourX-100 3D光学轮廓仪
轮廓GT-K
****的计量
ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量,表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和行业***的结晶。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05%到100%的反射率的所有表面情况下都非常坚固。
轮廓X-100
WLI为所有目标提供恒定且*终的垂直分辨率。
轮廓X-100
ContourX-100手动平台。
****的价值和分析
ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合,可提供对**高通量光学性能的简化访问,完全超越了同类计量技术。